Suche nach Patenten

Neu in der Patentrecherche? Siehe diese wichtigen Informationen zur Suche nach Patenten:

• Die Sieben-Schritte-Strategie-Skizziert ein vorgeschlagenes Verfahren für die Patentrecherche

• Eine detaillierte Handreichung der Sieben-Schritte-Strategie mit Beispielen und Screenshots.

Patente können mit den folgenden Ressourcen durchsucht werden:

USPTO Patent Full-Text and Image Database (PatFT)

Erfinder werden aufgefordert, die Patentdatenbank von USPTO zu durchsuchen, um festzustellen, ob bereits ein Patent angemeldet oder erteilt wurde, das Ihrem Patent ähnelt., Patente kann durchsucht werden in der USPTO-Patent Full-Text and Image Database (PatFT). Das USPTO enthält den vollständigen Text für Patente, die von 1976 bis heute erteilt wurden, und PDF-Bilder für alle Patente von 1790 bis heute.

Volltextsuche Patente (seit 1976)

Passen Sie eine Suche nach allen oder einer ausgewählten Gruppe von Elementen (Feldern) eines Patents an.

• Schnellsuche
• Erweiterte Suche
• Patentnummernsuche

Suche nach PDF-Bildpatenten (seit 1790)

Die Recherchen beschränken sich auf Patentnummern und / oder Klassifizierungscodes für Patente vor 1976.,

• Ansicht Patent Volle-Seite Bilder
• Wie zu Sehen Patent Bilder

USPTO Patent Anwendung Full-Text und Bild Datenbank (AppFT)

Suche für Full-Text und Bild versionen von patent anwendungen. Passen Sie die Suche in allen Feldern einer Patentanmeldung in der App oder für Volltextrecherchen an.

• Schnellsuche
• Erweiterte Suche
• Suche nach Veröffentlichungsnummern

Die Recherchen beschränken sich auf Patentnummern und / oder Klassifizierungscodes für ganzseitige Bilder.,

Ganzseitige Bilder der Veröffentlichung anzeigen

Globales Dossier

Globales Dossier ist eine Reihe von Unternehmensdienstleistungen, die darauf abzielen, das globale Patentsystem zu modernisieren und allen Beteiligten Vorteile über ein einziges Portal / eine einzige Benutzeroberfläche zu bieten. Über diesen sicheren Dienst haben Benutzer Zugriff auf die Dateihistorien verwandter Anwendungen von teilnehmenden IP-Büros, zu denen derzeit die IP5-Büros gehören.,

Durch die Nutzung dieses Dienstes können Benutzer die Patentfamilie für eine bestimmte Anmeldung sehen, die alle zugehörigen Anmeldungen enthält, die bei teilnehmenden IP-Büros eingereicht wurden, zusammen mit den Dossier -, Klassifizierungs-und Zitierdaten für diese Anmeldungen. Dieser Dienst bietet auch Office-Aktionsindikatoren, mit denen Benutzer Anwendungen identifizieren können, die Office-Aktionen enthalten, eine Sammlungsansicht zum Speichern von Dokumenten und Anwendungen zur späteren Überprüfung in der Sitzung und die Möglichkeit, die Dokumente in einer Anwendung herunterzuladen.,

Abrufen von Patentanmeldungen (PAIR)

Das System zum Abrufen von Patentanmeldungen (PAIR) bietet IP-Kunden eine sichere, einfache und sichere Möglichkeit, Informationen zum Patentantragsstatus abzurufen und herunterzuladen.

Besuchen Sie-PAIR-Mädchen

Öffentliche Suche Anlage

Das United States Patent and Trademark Office (USPTO) Public Search Facility located in Alexandria, VA bietet den Zugang der öffentlichkeit zu patent-und Marken-Informationen in einer Vielzahl von Formaten, einschließlich auf-Linie, Mikrofilm und drucken. Geschultes Personal steht den öffentlichen Nutzern zur Verfügung.,

Öffentliche Suche in Alexandria, VA

Patent and Trademark Resource Center (PTRCs)

Ihre nächste Patent-und Marken Ressource Center (PTRC) unterhält lokale Suche nach Ressourcen und können bieten Ausbildung auf dem Gebiet der Patentrecherche Techniken.

• Besuchen Sie das Programm Patent and Trademark Resource Center
• Finden Sie Ihr nächstes PTRC
• 7 Schritte zur Suche in einem PTRC

Patent Official Gazette

Das elektronische Amtsblatt ermöglicht es Benutzern, die ausgestellten Patente für die aktuelle Woche zu durchsuchen., Das Amtsblatt kann nach Klassifizierung oder Art des Patents durchsucht werden, z. B. nach Nutzen, Design und Anlage.

Amtsblatt besuchen

Common Citation Document (CCD)

Die Common Citation Document (CCD)-Anmeldung zielt darauf ab, den Zugriff auf aktuelle Zitationsdaten in Bezug auf die Patentanmeldungen der IP5-Ämter an einem einzigen Punkt zu ermöglichen. Er fasst den von allen beteiligten Ämtern für die Familienangehörigen einer Patentanmeldung angeführten Stand der Technik zusammen und ermöglicht so die Visualisierung der Recherchenergebnisse für dieselbe Erfindung, die von mehreren Ämtern erstellt wurden, auf einer einzigen Seite., Die Erstellung der CCD-Anmeldung ist Teil eines laufenden Prozesses der technischen Harmonisierung auf internationaler Ebene, der darauf abzielt, eine geeignete Infrastruktur aufzubauen, um eine stärkere Integration des globalen Patentsystems zu erleichtern.

Zugriff auf gemeinsames Zitierdokument

Internationale Patentämter durchsuchen

Um festzustellen, ob Ihre Idee im Ausland patentiert wurde, sollten Sie sich auf durchsuchbare Datenbanken beziehen, die von anderen internationalen Ämtern für geistiges Eigentum zur Verfügung gestellt werden.
Kostenloser Online-Zugang zu Patentsammlungen wird von vielen Ländern zur Verfügung gestellt., Einige verfügbare Datenbanken umfassen:

• Das Europäische Patentamt (EPA) stellt esp@cenet ein Netzwerk von europäischen Patentdatenbanken zur Verfügung – Diese Website bietet auch Zugang zur maschinellen Übersetzung europäischer Patente für einige Sprachen.
• Japan Patent Office (JPO) – Diese Seite bietet auch Zugang zu maschinellen Übersetzungen japanischer Patente.,
• Die Weltorganisation für geistiges Eigentum (WIPO) bietet den PATENTSCOPE ® -Suchdienst an, der eine Volltextsuche nach veröffentlichten internationalen Patentanmeldungen und maschinellen Übersetzungen einiger Dokumente sowie eine Liste internationaler Patentdatenbanken umfasst.
• Korean Intellectual Property Rights Information Service (KIPRIS)
• State Intellectual Property Office (SIPO) der Volksrepublik China. Diese Seite bietet Zugang zur maschinellen Übersetzung chinesischer Patente.,
• Weitere internationale Büros für geistiges Eigentum, die durchsuchbare Patentdatenbanken bereitstellen, sind: Australien, Kanada, Dänemark, Finnland, Frankreich, Deutschland, Großbritannien, Indien, Israel, Niederlande, Norwegen, Schweden, Schweiz und Taiwan.

Stopfakes.Gov bietet informative Toolkits, die einen Überblick über die IPR-Umgebung (Intellectual Property Rights) in verschiedenen Ländern der Welt geben.

Wenden Sie sich für weitere Suchressourcen an Ihre lokale Patent-und Markenverwahrungsbibliothek, besuchen Sie die USPTO Public Search Facility oder die USPTO Main STIC Library., Die Mitarbeiter in der STIC-Hauptbibliothek sind Experten für ausländische Patente und können der Öffentlichkeit bei Bedarf helfen.

Veröffentlichte Sequenzen durchsuchen

Die Website für veröffentlichte und veröffentlichte Sequenzen (PSIPS) bietet Sequenzlisten, Tabellen und andere Suchbegriffe für erteilte US-Patente oder veröffentlichte US-Patentanmeldungen.

Alle Sequenzen (SEQ ID Nr.) und Tabellen für aufgelistete Patente oder Publikationen können ohne Download eingesehen werden, indem auf die entsprechende Dokumentdetailseite zugegriffen und anschließend eine SEQ ID NR. oder eine mega table ID Nummer übermittelt wird.,

Besuchen Sie PSIPS

Patentabtretungsrecherche

Besuchen Sie die Website Patentabtretungsrecherche, um nach Patentabtretungen und Eigentumsänderungen zu suchen.

Visit Patent Assignment Search

Patent Examination Data System (PEDS)

Das Patent Examination Data System (PEDS) in der Amazon Cloud bietet öffentlichen Benutzern die Möglichkeit, bibliografische Daten für alle öffentlich verfügbaren Patentanmeldungen auf sichere Weise zu suchen, anzuzeigen und herunterzuladen., Die Lösung ermöglicht es öffentlichen Benutzern, bibliografische Daten in großen Mengen zu suchen und herunterzuladen sowie das Datenvolumen zu verwalten, das von einem bestimmten Benutzer zu einem bestimmten Zeitpunkt heruntergeladen werden kann.

Besuchen Sie PEDS